A MICROSCOPIA DE VARREDURA POR SONDA (SPM) É UMA DAS PODEROSAS TÉCNICAS MODERNAS
DE INVESTIGAÇÃO DA MORFOLOGIA E PROPRIEDADES LOCAIS DA SUPERFÍCIE DE MATERIAIS, COM ALTA
RESOLUÇÃO. ESTE TIPO DE MICROSCOPIA UTILIZA UMA SONDA MECÂNICA PARA A DETECÇÃO DE ALGUMAS
GRANDEZAS FÍSICAS NO ESTUDO DAS PROPRIEDADES DE UMA SUPERFÍCIE. CADA TÉCNICA ESTÁ RELACIONADA
COM O TIPO DE INTERAÇÃO SONDA-AMOSTRA QUE É OBSERVADA E PERMITE ALÉM DE UMA ANÁLISE
MORFOLÓGICA COM ALTÍSSIMA RESOLUÇÃO OBTERMOS VÁRIAS INFORMAÇÕES SOBRE PROPRIEDADES DO
MATERIAL. DICHALCOGENETOS DE METAIS DE TRANSIÇÃO (TMDCS) QUE TÊM A FÓRMULA GERAL MX2, ONDE
M REPRESENTA UM METAL DE TRANSIÇÃO, ENQUANTO QUE X REPRESENTA O CALCOGÊNIO. APESAR DA
EXISTÊNCIA DE MAIS DE QUARENTA ESPÉCIES DE TMDCS, APENAS MOS2, MOSE2, WS2 E WSE2, FORAM
FORTEMENTE ESTUDADOS ATÉ OS DIAS ATUAIS. É DEVIDO AO FATO DE QUE A ESPÉCIE MENCIONADA APRESENTA
UM CARÁTER SEMICONDUTOR, COM UM GAP DE BANDA CONSIDERÁVEL, O QUE TORNA ESSES TMDCS MUITO
ATRAENTES PARA APLICAÇÕES COMO DISPOSITIVOS SEMICONDUTORES. UTILIZAMOS MEDIDAS DE
MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA (AFM) E MICROSCOPIA DE FORÇA ELETROSTÁTICA (EFM) EM MODO
CONTATO INTERMITENTE (TAPPING) E EM MODO NÃO CONTATO, RESPECTIVAMENTE, COM UM SISTEMA
ASYLUM MFP-3D BIO EM CONDIÇÕES AMBIENTES, INVESTIGAMOS A MORFOLOGIA E AS PROPRIEDADES
ELÉTRICAS DE AMOSTRA DO WS2 E MOS2. AS MEDIDAS FORAM OBTIDAS EM MONOCAMADA, BICAMADA E
TRICAMADAS DE WS2 E MOS2, EM SUBSTRATO DE SI. ATRAVÉS DA ANÁLISE DAS MEDIDAS DE EFM EM MONOCAMADA, BICAMADA E TRICAMADA DE MOS2 IDENTIFICAMOS A MUDANÇA DO ASPECTO METAL PARA
SEMICONDUTOR VARIANDO COM O NÚMERO DE CAMADAS.