Artigo Anais VI JOIN / Brasil - Portugal

ANAIS de Evento

ISSN: 2594-8318

ESTUDO DE WS2 E MOS2 POR MICROSCOPIA DE VARREDURA POR SONDA

Palavra-chaves: MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA, MICROSCOPIA DE FORÇA ELETROSTÁTICA, DISSULFETO DE TUNGSTÊNIO, DISSULFETO DE MOLIBIDÊNIO Pôster (PO) AT 03: Astronomia / Física
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      DE INVESTIGAÇÃO DA MORFOLOGIA E PROPRIEDADES LOCAIS DA SUPERFÍCIE DE MATERIAIS, COM ALTA \r\n
      RESOLUÇÃO. ESTE TIPO DE MICROSCOPIA UTILIZA UMA SONDA MECÂNICA PARA A DETECÇÃO DE ALGUMAS \r\n
      GRANDEZAS FÍSICAS NO ESTUDO DAS PROPRIEDADES DE UMA SUPERFÍCIE. CADA TÉCNICA ESTÁ RELACIONADA \r\n
      COM O TIPO DE INTERAÇÃO SONDA-AMOSTRA QUE É OBSERVADA E PERMITE ALÉM DE UMA ANÁLISE \r\n
      MORFOLÓGICA COM ALTÍSSIMA RESOLUÇÃO OBTERMOS VÁRIAS INFORMAÇÕES SOBRE PROPRIEDADES DO \r\n
      MATERIAL. DICHALCOGENETOS DE METAIS DE TRANSIÇÃO (TMDCS) QUE TÊM A FÓRMULA GERAL MX2, ONDE \r\n
      M REPRESENTA UM METAL DE TRANSIÇÃO, ENQUANTO QUE X REPRESENTA O CALCOGÊNIO. APESAR DA \r\n
      EXISTÊNCIA DE MAIS DE QUARENTA ESPÉCIES DE TMDCS, APENAS MOS2, MOSE2, WS2 E WSE2, FORAM \r\n
      FORTEMENTE ESTUDADOS ATÉ OS DIAS ATUAIS. É DEVIDO AO FATO DE QUE A ESPÉCIE MENCIONADA APRESENTA \r\n
      UM CARÁTER SEMICONDUTOR, COM UM GAP DE BANDA CONSIDERÁVEL, O QUE TORNA ESSES TMDCS MUITO \r\n
      ATRAENTES PARA APLICAÇÕES COMO DISPOSITIVOS SEMICONDUTORES. UTILIZAMOS MEDIDAS DE \r\n
      MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA (AFM) E  MICROSCOPIA DE FORÇA ELETROSTÁTICA (EFM) EM MODO \r\n
      CONTATO INTERMITENTE (TAPPING) E EM MODO NÃO CONTATO, RESPECTIVAMENTE, COM UM SISTEMA \r\n
      ASYLUM MFP-3D BIO EM CONDIÇÕES AMBIENTES, INVESTIGAMOS A MORFOLOGIA E AS PROPRIEDADES \r\n
      ELÉTRICAS DE AMOSTRA DO WS2 E MOS2. AS MEDIDAS FORAM OBTIDAS EM MONOCAMADA, BICAMADA E \r\n
      TRICAMADAS DE WS2 E MOS2, EM SUBSTRATO DE SI. ATRAVÉS DA ANÁLISE DAS MEDIDAS DE EFM EM MONOCAMADA, BICAMADA E TRICAMADA DE MOS2 IDENTIFICAMOS A MUDANÇA DO ASPECTO METAL PARA \r\n
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Publicado em 04 de setembro de 2019

Resumo

A MICROSCOPIA DE VARREDURA POR SONDA (SPM) É UMA DAS PODEROSAS TÉCNICAS MODERNAS DE INVESTIGAÇÃO DA MORFOLOGIA E PROPRIEDADES LOCAIS DA SUPERFÍCIE DE MATERIAIS, COM ALTA RESOLUÇÃO. ESTE TIPO DE MICROSCOPIA UTILIZA UMA SONDA MECÂNICA PARA A DETECÇÃO DE ALGUMAS GRANDEZAS FÍSICAS NO ESTUDO DAS PROPRIEDADES DE UMA SUPERFÍCIE. CADA TÉCNICA ESTÁ RELACIONADA COM O TIPO DE INTERAÇÃO SONDA-AMOSTRA QUE É OBSERVADA E PERMITE ALÉM DE UMA ANÁLISE MORFOLÓGICA COM ALTÍSSIMA RESOLUÇÃO OBTERMOS VÁRIAS INFORMAÇÕES SOBRE PROPRIEDADES DO MATERIAL. DICHALCOGENETOS DE METAIS DE TRANSIÇÃO (TMDCS) QUE TÊM A FÓRMULA GERAL MX2, ONDE M REPRESENTA UM METAL DE TRANSIÇÃO, ENQUANTO QUE X REPRESENTA O CALCOGÊNIO. APESAR DA EXISTÊNCIA DE MAIS DE QUARENTA ESPÉCIES DE TMDCS, APENAS MOS2, MOSE2, WS2 E WSE2, FORAM FORTEMENTE ESTUDADOS ATÉ OS DIAS ATUAIS. É DEVIDO AO FATO DE QUE A ESPÉCIE MENCIONADA APRESENTA UM CARÁTER SEMICONDUTOR, COM UM GAP DE BANDA CONSIDERÁVEL, O QUE TORNA ESSES TMDCS MUITO ATRAENTES PARA APLICAÇÕES COMO DISPOSITIVOS SEMICONDUTORES. UTILIZAMOS MEDIDAS DE MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA (AFM) E MICROSCOPIA DE FORÇA ELETROSTÁTICA (EFM) EM MODO CONTATO INTERMITENTE (TAPPING) E EM MODO NÃO CONTATO, RESPECTIVAMENTE, COM UM SISTEMA ASYLUM MFP-3D BIO EM CONDIÇÕES AMBIENTES, INVESTIGAMOS A MORFOLOGIA E AS PROPRIEDADES ELÉTRICAS DE AMOSTRA DO WS2 E MOS2. AS MEDIDAS FORAM OBTIDAS EM MONOCAMADA, BICAMADA E TRICAMADAS DE WS2 E MOS2, EM SUBSTRATO DE SI. ATRAVÉS DA ANÁLISE DAS MEDIDAS DE EFM EM MONOCAMADA, BICAMADA E TRICAMADA DE MOS2 IDENTIFICAMOS A MUDANÇA DO ASPECTO METAL PARA SEMICONDUTOR VARIANDO COM O NÚMERO DE CAMADAS.

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