Neste trabalho, apresentamos o modelo de teste de vida acelerado com base na distribuição Birnbaum-Saunders Generalizada. Este modelo é uma generalização do modelo de teste de vida acelerado Birnbaum-Saunders. Para fins de comparação, consideraremos um sub-modelo dessa classe: o modelo de teste vida acelerado Birnbaum-Saunders-t Student. Consideremos como estressor a lei potência inversa que descreve o tempo de falha de um produto como função de único fator de estresse, que pode ser voltagem (mais usual), temperatura, carga mecânica, entre outros. Aplicamos os modelos estudados a dados de fadiga de cupons de alumínio e concluímos que o modelo de vida acelerado Birnbaum-Saunders-t se mostrou superior ao modelo de vida acelerado Birnbaum-Saunders, fornecendo assim uma melhor previsão aos dados de fadiga considerado.
