ESTUDO DE ÓXIDO DE GRAFENO
POR MICROSCOPIA DE FORÇA ELETROSTÁTICA
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Embora as propriedades elétricas do óxido de grafeno tenham sido intensamente estudadas, o mesmo cuidado não foi dado para uma densidade de carga superficial no Óxido de grafeno. De fato, a carga superficial no óxido de grafeno depende do nível de oxidação na superfície, uma vez que os grupos radicais de oxidação são responsáveis pela presença de carga na folha de grafeno oxidado e esta pode variar para diferentes amostras e diferentes técnicas de preparação de amostras. Trabalhos recentes revelam que a microscopia de força eletrostática (EFM) é uma técnica adequada para investigar a densidade de carga em escala nanométrica. 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