APLICAÇÃO DE AFM CONDUTIVO EM DISPOSITIVOS DE NANOTUBOS DE CARBONO MULTICAMADAS
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Desde as primeiras observações dos CNTs em 1991 até hoje, amostras desse material foram submetidas a uma infinidade de medidas relacionadas às suas propriedades eletrônicas, onde se buscou controlar e analisar a influência do ambiente, do substrato, da temperatura, da síntese, entre outros aspectos, no transporte eletrônico. A alta mobilidade dos portadores de carga nos CNTs foi um dos fatores, dentre vários outros, que empolgaram cientistas do mundo todo a realizarem experimentos que elucidassem suas propriedades de transporte. Nesse aspecto, o AFM condutivo, ou CAFM, torna-se uma ferramenta viável no estudo das propriedades de transporte eletrônico em dispositivos baseados em nanotubos de carbono. Portanto, nesse trabalho teve o objetivo de analisar a resposta eletrônica em dispositivos de CNT multicamadas com o uso da técnica de microscopia de força atômica no modo condutivo. 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