Resumo Trabalho

ESTUDO DE ÓXIDO DE GRAFENO POR MICROSCOPIA DE FORÇA ELETROSTÁTICA

Autor(es): FABIANA DE MATOS CARVALHO e orientado por FRANCISCO CARLOS CARNEIRO SOARES SALOMÃO

Após a descoberta do grafeno e seus derivados, como o óxido de grafeno (OG), que apresentam propriedades físicas e químicas notáveis, que se tornam materiais altamente promissores no desenvolvimento de novas tecnologias e aplicações em dispositivos eletrônicos e super capacitores, vários estudos foram realizados em torno de suas propriedades elétricas. Embora as propriedades elétricas do óxido de grafeno tenham sido intensamente estudadas, o mesmo cuidado não foi dado para uma densidade de carga superficial no Óxido de grafeno. De fato, a carga superficial no óxido de grafeno depende do nível de oxidação na superfície, uma vez que os grupos radicais de oxidação são responsáveis pela presença de carga na folha de grafeno oxidado e esta pode variar para diferentes amostras e diferentes técnicas de preparação de amostras. Trabalhos recentes revelam que a microscopia de força eletrostática (EFM) é uma técnica adequada para investigar a densidade de carga em escala nanométrica. Neste trabalho, investigamos esta propriedade, utilizamos o sistema ASYLUM MFP-3D BIO para obter medidas de EFM, no modo não contato com sondas de constante de força k = 2,8 N/m, frequência de oscilação livre f0 = 75 KHz e raio da ponta de 20 nm, variando a tensão na ponta, para determinar a natureza carga (negativa) e variando a distância entre a ponta e a amostra (altura de elevação – lift), para avaliar a densidade de carga superficial (de 64,8 uC / cm²) do óxido de grafeno monocamada comercial obtido com a Cheap Tubes Inc., que tem um nível de oxidação de 10%.

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